¿qué es el sem características?

Análisis de sem

Un microscopio electrónico es un microscopio que utiliza un haz de electrones acelerados como fuente de iluminación. Como la longitud de onda de un electrón puede ser hasta 100.000 veces más corta que la de los fotones de la luz visible, los microscopios electrónicos tienen un mayor poder de resolución que los microscopios ópticos y pueden revelar la estructura de objetos más pequeños. Un microscopio electrónico de transmisión de barrido ha logrado una resolución superior a 50 pm en el modo de imagen de campo oscuro anular[1] y aumentos de hasta unos 10.000.000×, mientras que la mayoría de los microscopios ópticos están limitados por la difracción a una resolución de unos 200 nm y aumentos útiles inferiores a 2000×.

Los microscopios electrónicos se utilizan para investigar la ultraestructura de una amplia gama de muestras biológicas e inorgánicas, como microorganismos, células, moléculas grandes, muestras de biopsias, metales y cristales. En la industria, los microscopios electrónicos se utilizan a menudo para el control de calidad y el análisis de fallos. Los microscopios electrónicos modernos producen micrografías electrónicas utilizando cámaras digitales especializadas y captadores de imágenes para capturarlas.

Microscopía electrónica de barrido

Se presentó un nuevo método para la adquisición de imágenes en microscopía electrónica de barrido (SEM). El método utilizaba tiempos de permanencia de píxeles aumentados de forma adaptativa para mejorar la relación señal-ruido (SNR) en zonas de gran detalle. En las zonas de poco detalle, se reducía la dosis de electrones por píxel y se aplicaban técnicas de procesamiento de imágenes a-posteriori para eliminar el ruido resultante. La técnica se realizó escaneando la muestra dos veces. En el primer escaneo rápido se utilizaron tiempos de permanencia de píxeles pequeños para generar una primera imagen ruidosa utilizando una dosis de electrones baja. Esta imagen se analizó automáticamente y un algoritmo de software generó un patrón disperso de las regiones de la imagen que requieren un muestreo adicional. Una segunda exploración generó una imagen dispersa de sólo estas regiones, pero utilizando una dosis de electrones muy aumentada. Aplicando un filtro selectivo de paso bajo y combinando ambos conjuntos de datos, se generó una única imagen. La imagen resultante mostró un factor de ≈3 mejor SNR que una imagen adquirida con muestreo uniforme en una cuadrícula cartesiana y el mismo tiempo total de adquisición. Este resultado implica que la dosis de electrones requerida (o el tiempo de adquisición) para el método de barrido adaptativo es un factor de diez menos que para el barrido uniforme.

Introducción a la microscopía electrónica de barrido

La detección en las imágenes de MEB de las características de las muestras, como las diferencias de composición, la topografía (forma, inclinación, bordes, etc.) y las diferencias físicas (orientación de los cristales, campos magnéticos, campos eléctricos, etc.), depende del cumplimiento de dos criterios (1) establecer las condiciones mínimas necesarias para garantizar que el contraste creado por la interacción haz-espécimen que responde a las diferencias en las características del espécimen sea estadísticamente significativo en la señal de imagen (electrones retrodispersados [BSE], electrones secundarios [SE], o una combinación) en comparación con las inevitables fluctuaciones aleatorias de la señal (ruido); y (2) aplicar el procesamiento de la señal y el procesamiento digital de la imagen adecuados para que la información de contraste que existe en la señal sea visible para el observador que visualiza la imagen final.

La resolución es un parámetro clave para la microscopía, pero los métodos para normalizar su definición suelen estar mal definidos. Para una técnica en desarrollo como la microscopía de barrido con helio, es fundamental que se prepare un protocolo basado en el consenso para determinar la resolución de los instrumentos como un estándar escrito que permita tanto mediciones cuantitativas comparables de la topografía de la superficie como comparaciones directas entre diferentes instrumentos. En este artículo evaluamos una serie de métodos cuantitativos para determinar la resolución de los instrumentos y determinamos sus ventajas relativas cuando se aplican al caso específico del microscopio de helio de barrido (SHeM). En consecuencia, presentamos un protocolo preliminar para medir la resolución en la microscopía de barrido con helio, basado en la utilización de muestras de prueba adecuadas con conjuntos de rendijas de dimensiones bien definidas para establecer la resolución cuantitativa de cualquier instrumento similar.

Preparación de la muestra sem

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