¿cuáles son las ventajas del sem?
Ventajas y desventajas del microscopio de luz
Hay información buena y fundamental en el enlace de abajo que es útil para otros equipos también . Sé que mi respuesta es demasiado tarde, pero cuando alguien busque sobre las ventajas del SEM, esta pregunta aparecerá para él. saludos
Creo que el SEM es muy útil para el análisis de la microestructura, ya sea de la superficie de la naturaleza o de la superficie de la fractura. A veces, la gente lo utiliza para observar los dominios en los ferroeléctricos después del grabado químico. Hay varios modos para las máquinas de SEM, como la imagen de electrones secundarios, la imagen de electrones retrodispersados y EDX. Los dos últimos son útiles si hay fase secundaria en las muestras.
El MEB se utiliza para obtener imágenes de la superficie (electrones primarios) y para analizar la composición (electrones retrodispersados). El SEM también puede utilizarse para analizar la continuidad de la película fina. El X-SEM puede utilizarse para determinar el grosor de la película fina depositada sobre un sustrato. El MEB puede utilizarse para estudiar las propiedades de la superficie hasta la nanoescala.
La morfología es un término muy amplio. Conviene dividirlo en sus distintos componentes, como la rugosidad, la topografía, la periodicidad lateral de los rasgos, el tamaño lateral de los rasgos o la altura/profundidad de los rasgos. El «mejor» método será entonces el que funcione más eficazmente para obtener el valor específico de interés. Por ejemplo, el MEB sólo toma imágenes en 2D. En base a esto, ¿qué valores morfológicos no pueden ser medidos por el MEB?
Limitaciones de la microscopía electrónica
Los electrones secundarios (SE) se emiten cuando el haz de elctrom excita los electrones de la muestra. Hay una pérdida de energía (interacción inelástica) y los electrones secundarios de baja energía sólo pueden escapar de los pocos nanómetros exteriores de la muestra, lo que los hace útiles para obtener imágenes de la topografía de la superficie.
Por otra parte, los electrones de alta energía del haz de electrones pueden rebotar en la muestra sin pérdida de energía (dispersión elástica). Estos electrones retrodispersados (BSE) pueden escapar de un área más grande de la muestra, por lo que tienen una menor resolución topográfica que los SE. Sin embargo, la cantidad de BSE emitida aumenta con el aumento de la masa atómica de la muestra. Esto permite obtener imágenes de la composición, ya que los elementos más pesados aparecen más brillantes.
El haz de electrones también hace que los átomos emitan rayos X, con energías específicas para los elementos presentes. Estos rayos pueden utilizarse para identificar y cuantificar los elementos presentes en la muestra y crear una imagen (o mapa) de la distribución de los elementos, lo que se denomina espectrometría de energía dispersiva (EDS).
Preparación de muestras de sem
La microscopía electrónica de barrido (SEM) es una potente técnica de análisis de materiales. Está especialmente diseñada para capturar imágenes atractivas de alta resolución de las superficies de una muestra. De hecho, dependiendo de la muestra, nos atrevemos a decir que las fotos resultantes a menudo rozan el arte.
Por supuesto, estas imágenes no son sólo un regalo para la vista. Desde la microelectrónica hasta el procesamiento de alimentos, las imágenes de SEM proporcionan una información muy valiosa sobre la topografía y la composición para las empresas de una amplia gama de industrias, ayudando a garantizar la calidad del producto, analizar el potencial de fracaso, e informar sobre el desarrollo del producto. Y cuando el SEM se utiliza junto con la espectroscopia de dispersión de energía (EDS), el análisis también proporciona datos cualitativos y cuantitativos de análisis químico sobre la muestra.
El SEM con EDS proporciona un análisis elemental cualitativo, un análisis cuantitativo sin estándares, escaneos de líneas de rayos X y mapeo. Estos datos pueden utilizarse para examinar los defectos del producto, identificar la composición elemental de los materiales extraños, evaluar el grosor de los revestimientos y determinar el tamaño de los granos y las partículas.
Desventajas del microscopio electrónico
Un microscopio electrónico de barrido (SEM) es un tipo de microscopio que utiliza un haz de electrones enfocado para escanear la superficie de una muestra y crear una imagen de alta resolución. El MEB produce imágenes que pueden mostrar información sobre la composición y la topografía de la superficie de un material.
El microscopio electrónico de barrido produce imágenes detalladas y ampliadas de un objeto mediante el barrido de un haz de electrones enfocado. Su funcionamiento es diferente al de los microscopios electrónicos de transmisión (TEM), ya que el haz de electrones atraviesa directamente el objeto.
Los electrones se crean y disparan mediante un cañón de electrones que se aceleran hacia abajo en el microscopio pasando por una serie de lentes y aberturas creando un haz enfocado que luego interactúa con la superficie de una muestra.
La muestra se coloca en un escenario en la cámara del microscopio antes de que se cree un vacío en la cámara mediante una serie de bombas. El nivel de vacío depende del diseño del microscopio, mientras que algunos microscopios están diseñados para funcionar en entornos de bajo vacío, lo que significa que no es necesario evacuar la cámara.