¿qué se puede hacer con sem?
Sem-edx-analyse
También he realizado la FESEM de un cultivo bacteriano líquido. Para ello, he colocado un cultivo bien mezclado en una lámina de aluminio y lo he dejado secar al aire a temperatura ambiente. Después se puede montar en el adhesivo del soporte SEM de la muestra y proceder a recubrirlo con oro antes del análisis. Puedes seguir este método.
Yo tuve el mismo problema. Se solucionó de una manera muy sencilla: dejamos caer la solución concentrada de las nanopartículas sobre la malla de cobre recubierta de carbono (utilizada para las muestras de TEM como soporte) y la secamos en un desecador. Como teníamos nanopartículas metálicas, éstas eran visibles en la superficie de cobre incluso a gran aumento, sin necesidad de más recubrimiento de carbono o metal.
Lo que se puede hacer es lo mencionado anteriormente depositando una gota sobre un sustrato (con características diferentes en comparación con el material que se quiere analizar) silicio cristalino, malla de cobre, por ejemplo.
¿entonces debe estar bien pulverizado? «Porque si no lo hago pulverizado, ==> los altibajos de la superficie de la suspensión liofilizada (la rugosidad y las ondas) (tipo espuma), hacen que se produzca un error en el análisis XRD».
Microscopía electrónica de transmisión
Los microscopios electrónicos de barrido (SEM) se utilizan en numerosas aplicaciones industriales, comerciales y de investigación. Desde los procesos de fabricación más avanzados hasta las aplicaciones forenses, el MEB moderno tiene una gran variedad de aplicaciones prácticas.
En la figura 1 se muestra una representación esquemática de un MEB. La fuente de electrones genera los electrones en la parte superior de la columna. A continuación, se aceleran hacia abajo por la columna que está en vacío, lo que ayuda a evitar que los átomos y las moléculas presentes en la columna interactúen con el haz de electrones y garantiza una buena calidad de las imágenes.
Las lentes electromagnéticas se utilizan para controlar la trayectoria de los electrones. El condensador define el tamaño del haz de electrones (que define la resolución), mientras que la función principal de la lente objetivo es enfocar el haz sobre la muestra. Las bobinas de barrido se utilizan para dirigir el haz hacia la muestra. En muchos casos, las aberturas se combinan con las lentes para controlar el tamaño del haz.
Las muestras emiten diferentes tipos de electrones al interactuar con el haz de electrones. Se coloca un detector de electrones retrodispersados (BSE) sobre la muestra para ayudar a detectar los electrones retrodispersados. Las imágenes muestran información de contraste entre áreas con diferentes composiciones químicas, ya que los elementos más pesados (de alto número atómico) aparecerán más brillantes. Un detector de electrones secundarios (SE) se coloca en el lateral de la cámara de electrones, en ángulo, para aumentar la eficacia de la detección de electrones secundarios que pueden proporcionar información más detallada de la superficie.
Análisis cuantitativo de eds
El MEB es una técnica de imagen que utiliza electrones incidentes para generar una irradiación secundaria de la muestra. Ésta puede detectarse de diversas maneras para visualizar las superficies de las muestras con una gran profundidad de campo y resoluciones laterales de alrededor de 1-20 nm, así como para analizar el estado físico y químico del sustrato.
Se utiliza un fino haz de electrones para recorrer la superficie de la muestra en sincronía con el punto de un tubo de rayos catódicos (CRT). Este haz incidente provoca la dispersión elástica e inelástica de los electrones, así como variaciones de la radiación electromagnética. A continuación, hay una gran cantidad de señales secundarias que pueden detectarse, como los electrones secundarios, los electrones retrodispersados, los electrones Auger, la catodoluminiscencia o los rayos X. En general, a medida que el haz de electrones primario atraviesa un sustrato, la intensidad de la señal secundaria cambiará en función de la morfología de la superficie, la química, el estado físico, etc. El contraste se observa ajustando el brillo del punto de la TRC por la versión amplificada de esta señal detectada.
Espectroscopia de rayos x de dispersión de energía
Microscopio electrónico de barrido (SEM), tipo de microscopio electrónico, diseñado para estudiar directamente las superficies de objetos sólidos, que utiliza un haz de electrones enfocados de energía relativamente baja como sonda electrónica que se barre de forma regular sobre la muestra. La fuente de electrones y las lentes electromagnéticas que generan y enfocan el haz son similares a las descritas para el microscopio electrónico de transmisión (TEM). La acción del haz de electrones estimula la emisión de electrones retrodispersados de alta energía y de electrones secundarios de baja energía desde la superficie de la muestra.
Para el examen en el MEB no se requieren técnicas elaboradas de preparación de la muestra, y se pueden acomodar muestras grandes y voluminosas. Es conveniente que la muestra sea conductora de la electricidad; de lo contrario, no se obtendrá una imagen nítida. La conductividad suele conseguirse evaporando una película de metal, como el oro, de 50 a 100 angstroms de espesor sobre la muestra en el vacío (este espesor no afecta materialmente a la resolución de los detalles de la superficie). Sin embargo, si el MEB puede funcionar con 1-3 kilovoltios de energía, se pueden examinar incluso las muestras no conductoras sin necesidad de un revestimiento metálico.