Deshidratación sem
Los microscopios electrónicos de barrido nos permiten alcanzar aumentos de 20-130.000× y resolver imágenes compositivas y topográficas con intenso detalle. Estas imágenes se crean bombardeando una muestra con electrones de forma focalizada para generar una imagen en blanco y negro a partir de los electrones que rebotan en la muestra. Los electrones se detectan mediante detectores con carga positiva. La microscopía electrónica de barrido permite obtener imágenes tridimensionales de muestras desecadas o de células y tejidos húmedos mediante el uso de cámaras de presión variable. El análisis ultraestructural del SEM y la obtención de imágenes intracelulares complementan la microscopía óptica para la elaboración de perfiles moleculares de procariotas, plantas y mamíferos. En este capítulo se muestra cómo preparar y obtener imágenes de muestras (a) desecadas y conductoras, (b) desecadas y no conductoras, pero recubiertas con una película conductora de electrones mediante un recubrimiento por pulverización de oro, y
Preparación de tejidos para la microscopía electrónica
La microscopía electrónica de barrido (MEB) se ha aplicado casi universalmente para el examen de la superficie y la caracterización de objetos tanto naturales como artificiales. Aunque se trata de una técnica invasiva, el desarrollo de la microscopía electrónica a lo largo de los años ha …más
La microscopía electrónica de barrido (MEB) se ha aplicado casi universalmente para el examen de la superficie y la caracterización de objetos tanto naturales como artificiales. Aunque se trata de una técnica invasiva, el desarrollo de la microscopía electrónica a lo largo de los años ha dado al microscopista una opción mucho más clara en cuanto al grado de invasión de la técnica. Con la llegada del MEB de bajo vacío en la década de 1970 (The environmental cold stage, 1970) y del MEB ambiental a finales de la década de 1980 (J Microsc 160(pt. 1):9-19, 1989), ahora es posible, en algunas circunstancias, examinar muestras sin preparación. Sin embargo, para el examen de células y tejidos biológicos sigue siendo aconsejable fijar, deshidratar y recubrir químicamente las muestras para la obtención de imágenes y el análisis por MEB. Este capítulo pretende ofrecer una visión general del MEB como herramienta de obtención de imágenes, así como una introducción general a algunos de los métodos aplicados para la preparación de las muestras.
Preparación de muestras de polvo Sem
ArBlade 5000 admite tanto el fresado de sección transversal como el fresado plano para preparar muestras en función del objetivo. La anchura de la sección transversal puede ampliarse a 8 mm para aplicaciones que requieran un fresado de área amplia, como los componentes eléctricos.
La IM4000Plus admite tanto el fresado de sección transversal como el fresado plano para preparar muestras en función del objetivo. Se dispone de una unidad de refrigeración para las muestras susceptibles de deformarse o fundirse durante el proceso de generación de calor. El soporte de protección del aire evita la exposición al aire de las muestras reactivas durante la transferencia de la muestra
Un sputter iónico aumenta la conductividad de la muestra no conductora para evitar que se cargue durante la observación con el microscopio electrónico. El MC1000 emplea la tecnología de sputtering por magnetrón para reducir el daño a la muestra, y el blanco puede seleccionarse entre Pt, Pt-Pd, Au y Au-Pd dependiendo del propósito.
Semestre
Desde sistemas de haz de iones enfocados (FIB) hasta un pulidor de sección transversal de haz de iones amplio de sobremesa, ofrecemos una selección de instrumentos especializados para preparar rápidamente secciones transversales precisas de dispositivos semiconductores, metales, cerámicas, estructuras multicapa y también materiales sensibles al entorno o al haz.
JEOL también ofrece una línea de recubridores por pulverización y evaporación (de metal o carbono) que facilitan la obtención de imágenes y el análisis de muestras no conductoras. Estos y otros equipos periféricos complementan la amplia línea de microscopios electrónicos de JEOL.